產(chǎn)品名稱：二手 日本電子 IT-500掃描電鏡
產(chǎn)品型號：
更新時(shí)間：2025-05-21
產(chǎn)品特點(diǎn)：二手 日本電子 IT-500掃描電鏡是JEOL InTouchScope系列的新機(jī)型。 從設(shè)定視野到生成報(bào)告，用于分析的軟件整合于一體，加快了作業(yè)速度！是一款無縫操作，使用更加方便的掃描電子顯微鏡
產(chǎn)品詳細(xì)資料：
二手 日本電子 IT-500掃描電鏡JSM-IT500掃描電子顯微鏡
性能介紹
■ 利用 Zeromag 進(jìn)行快速導(dǎo)航
■ Live Analysis在圖像觀察過程中進(jìn)行實(shí)時(shí)分析
■ SMILE VIEW LAB 能綜合管理 SEM 圖像 & EDS 分析數(shù)據(jù)
■ 安全、簡便 的樣品交換導(dǎo)航
日常分析更迅速！更簡便 !
從安裝樣品到生成報(bào)告，實(shí)時(shí)分析軟件使分析過程無縫連貫，作業(yè)速度更快，操作更加簡便。
■ Zeromag
從樣品架示意圖或者CCD圖像上尋找視野和分析位置。
可以快速地尋找視野 , 簡便地預(yù)約多個(gè)視野連續(xù)分析的位置。
■ Live Analysis （ 實(shí)時(shí)分析）
觀察過程中的 EDS 分析
在觀察過程中可以隨時(shí)實(shí)時(shí)顯示分析區(qū)域內(nèi)的特征 X 射線譜圖、自動(dòng)定性分析結(jié)果和主要構(gòu)成元素。
還可以標(biāo)記“Alert"到感興趣的元素上。
■ 數(shù)據(jù)集中管理軟件 SMILE VIEWTM Lab
通過數(shù)據(jù)管理圖標(biāo)或獲取的數(shù)據(jù)一覽，顯示數(shù)據(jù)管理畫面后，可以重新查看或再次分析數(shù)據(jù)，還可以一鍵生成報(bào)告。
利用用戶日志也可以分別管理數(shù)據(jù)。由于數(shù)據(jù)相互聯(lián)動(dòng)，進(jìn)行重構(gòu)也很簡單。
二手 日本電子 IT-500掃描電鏡 是一款掃描電鏡，它只需很少的步驟就能獲取高倍率圖像。
● 二次電子圖像
利用高真空二次電子像觀察鐵銹的表面，在高倍率下可以觀察到細(xì)微的表面形貌。
● 背散射電子圖像
下圖是硬質(zhì)合金截面的背散射電子成分像，在低電壓的背散射電子模式下可以觀察每個(gè)碳化鎢顆粒的晶體取向（通道襯度）差異。
● 選擇掃描系統(tǒng)可獲取畫質(zhì)更好的低加速電壓圖像
可以選擇快速幀累積的掃描系統(tǒng)來減少樣品的放電現(xiàn)像。因此 ,即使在低加速電壓下觀察容易荷電或易受電子束損傷的樣品，也能容易地獲取高倍率圖像。
低真空模式
在物鏡附近進(jìn)行差動(dòng)抽氣顯著提高了低真空模式下的圖像質(zhì)量。此外，低真空模式的最大壓力可高達(dá) 650 Pa, 進(jìn)一步擴(kuò)大了應(yīng)用范圍。
超低真空圖像
含有大量水分的軟樣品會因?yàn)闃悠肥覂?nèi)的壓力而無法保持原有的結(jié)構(gòu)。從前對這樣的樣品不進(jìn)行特殊處理就無法觀察。當(dāng)?shù)驼婵諌毫Ψ秶鷶U(kuò)展到 650 Pa 時(shí)，即使沒有特殊處理也可以在對樣品損傷很小的情況下進(jìn)行觀察。
SEM 觀察界面
在 SEM 觀察界面上可以確認(rèn)到正在觀察的譜圖和主要元素。
各個(gè)分析區(qū)域都與對應(yīng)的樣品臺坐標(biāo)關(guān)聯(lián)，并且顯示在樣品架示意圖上或者 CCD 圖像 上。
● EDS
X 射線能譜儀 (EDS) 是安裝在掃描電鏡 (SEM) 的附件，通過檢測電子束照射時(shí)樣品產(chǎn)生的特征 X 射線，從而進(jìn)行元素分析。
詳細(xì)分析顯示界面
切換到詳細(xì)分析顯示界面后可以進(jìn)行譜圖解析以及元素面分布分析等。
即使在分析期間，也可以從已經(jīng)獲取的數(shù)據(jù)中生成報(bào)告。
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