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二手JEOL IT-500HR場發(fā)射電鏡屬于掃描電子顯微鏡，歸為 InTouchScope™系列，憑借高亮度電子槍與優(yōu)化的透鏡系統(tǒng)，兼顧高分辨率成像與高效元素分析能力，適配多領(lǐng)域樣品觀測與成分檢測需求。
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二手HITACHI S-4800掃描電子顯微鏡冷場發(fā)射電子源提供1.0 nm超高分辨率成像，0.5-30 kV連續(xù)可調(diào)電壓精準適配各類樣品，配合E×B技術(shù)實現(xiàn)SE/BSE信號自由切換，10mm2能譜儀可快速完成Be到U的全元素分析。
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二手日立 SU-8230 冷場超高分辨掃描電鏡主要功能及應(yīng)用范圍：微區(qū)形貌、微區(qū)成分分析。可以觀察和檢測非均相有機、無機材料，及這些材料在納米、微米級樣品的表面特征。該儀器廣泛應(yīng)用于金屬材料、高分子材料、半導(dǎo)體材料、化工原料、地礦物品、寶石文物等微觀形貌的研究及公安刑偵的物證分析。
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Hitachi 二手SU5000熱場式場發(fā)射掃描電鏡允許在高真空和可變壓力模式之間進行簡單的切換。樣品室可容納大型樣品（-200mmφ，-80mmH）。使用無場光學(xué)元件和可變壓力輕松對任何類型的樣品進行成像，最多可同時提供4個信號，3D MultiFinder工具，使樣品可以輕松傾斜和旋轉(zhuǎn)，影像依然保持居中和聚焦。
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Hitachi 二手 SU-5000場發(fā)射電鏡 SEM+EDX是一款高性能電子光學(xué)系統(tǒng)，具備2.0 nm的二次電子分辨率和強大的低加速電壓成像能力（低至100 V），支持高效微區(qū)分析及材料研究。其“EM Wizard”界面簡化了操作流程，提供高真空與可變壓力模式之間的靈活切換，并配備了多種分析工具如EDS、WDS、EBSD等，適用于廣泛的科研領(lǐng)域。
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二手 日立 SU-5000 熱場發(fā)射電鏡允許在高真空和可變壓力模式之間進行簡單的切換。樣品室可容納大型樣品（-200mmφ，-80mmH）。使用無場光學(xué)元件和可變壓力輕松對任何類型的樣品進行成像，最多可同時提供4個信號，3D MultiFinder工具，使樣品可以輕松傾斜和旋轉(zhuǎn)，影像依然保持居中和聚焦。
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二手 蔡司 sigma300 場發(fā)射電鏡分析性能與場發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動的4步工作流程節(jié)省大量的時間：設(shè)置成像與分析步驟，提高效率。 Sigma 300 性價比高。Sigma 500 裝配有的背散射幾何探測器，可快速方便地實現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準可重復(fù)的分析結(jié)果。
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二手 日本電子 IT-500掃描電鏡是JEOL InTouchScope系列的新機型。 從設(shè)定視野到生成報告，用于分析的軟件整合于一體，加快了作業(yè)速度！是一款無縫操作，使用更加方便的掃描電子顯微鏡
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二手 日立 SU8020 高分辨冷場發(fā)射電鏡具有的功能，適用于各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、 背散射電子像觀察及圖像處理。低電壓下通過在納米尺度上觀察生物樣品如組織、 細胞、 微生物以及生物大分子等，獲得忠實原貌的立體感的樣品表面超微形貌結(jié)構(gòu)信息。 具有高性能X射線能譜儀，能同時進行樣品表層的微區(qū)點線面元素的定性、 半定量分析，具有形貌、 化學(xué)組分綜合分析能力。
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SU-8010 日立 二手冷場發(fā)射電鏡二次電子像、反射電子像進行觀察及圖像處理。可對金屬、陶瓷、巖石礦物、生物等樣品及各種固體材料進行觀察和分析研究。電鏡配有高性能X射線能量色散譜儀，簡稱能譜儀（EDS），能在不損壞樣品的同時進行樣品表層的微區(qū)點、線、面元素的定性、定量分析。具有形貌、化學(xué)組分綜合分析能力。
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